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如何使用氧化法測定奧氏體不銹鋼晶粒度?

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做實驗用氧化法測定奧氏體晶粒度。有幾個問題:

  1. T10 980度保溫20min淬水得到的不是馬氏體?怎么會有奧氏體?
  2. 試樣氧化的目的是什么?氧化后為什么要拋光?
  3. 顯微鏡下觀察試樣怎么找到有奧氏體的地方?為什么沒有看到馬氏體板條?

答:

1、淬水的得到的是馬氏體,不是奧氏體;但是由于馬氏體相變是切邊,因此高溫狀態下的奧氏體狀態能保留下來。低碳鋼都是用這個方法測量原奧氏體的晶粒度。但是對于一些合金鋼和高碳鋼,這個方式不太好用,因此有了氧化法。
2、氧化法的目的就是測量原奧氏體晶界的,它的原理大致是由于晶界氧化的快,晶界氧化的比較深。輕微拋光,是的表層的氧化物消失。然后用酸侵蝕,鐵被侵蝕點,原奧氏體晶界的地方是氧化物,不容易被侵蝕到。這樣就達到了測量原奧氏體晶粒的目的了。

是高碳鋼吧,用4%的硝酸酒精腐蝕應該有針狀馬氏體的。?

T10要看板條馬氏體,淬火后要問奧氏體晶粒在哪里,氧化后為啥要拋光?T10的含碳量0.95~1.04,鐵碳相圖學學沒,淬火的定義是啥,奧氏體向馬氏體轉變。不拋光在顯微鏡下沒法看的。

表1 氧化法和晶粒邊界腐蝕法所得奧氏體晶粒度

鋼號 氧化法奧氏體晶粒度 晶粒邊界腐蝕法奧氏體晶粒度
級別 平均弦長
(mm)
級別 平均弦長
(mm)
20 6(85%)+7(20%) 0.0322 6(85%)+7(15%) 0.0334
20CrMo 7(80%)+8(20%) 0.0248 7(80%)+6(20%) 0.0285
20Cr2Ni4 8~9 0.0174 7(80%)+8(20%) 0.0243
40Cr 9~10 0.0115 8~9 0.0182
45 6(50%)+8(50%) 0.0284 6(50%)+8(50%) 0.0287

?

  由表1可知,20、45鋼等碳鋼氧化法和晶粒邊界腐蝕法所得奧氏體晶粒度級別或平均弦長差別不大,即對于碳鋼來說,氧化法與晶粒邊界腐蝕法所顯示的奧氏體晶粒度基本相符。金相組織如圖1、2所示。而20CrMo、20Cr2Ni4、40Cr等合金鋼氧化法所得的奧氏體晶粒度級別或平均弦長較晶粒邊界腐蝕法要小,即氧化法顯示的奧氏體晶粒較晶粒邊界腐蝕法要細。其金相組織如圖3、4、5所示。

20鋼奧氏體晶粒大小100倍

圖1 20鋼奧氏體晶粒大小100倍;

45鋼奧氏體晶粒大小100倍

圖2 45鋼奧氏體晶粒大小100倍

20CrMo鋼奧氏體晶粒大小100倍

圖3 20CrMo鋼奧氏體晶粒大小100倍

20Cr2Ni4鋼奧氏體晶粒大小100倍

圖4 20Cr2Ni4鋼奧氏體晶粒大小100倍

40Cr鋼奧氏體晶粒大小100倍

圖5 40Cr鋼奧氏體晶粒大小100倍

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